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2026-06-01
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深入解析老化測(cè)試（Burn-in Test）探針在極端熱循環(huán)與大電流環(huán)境下的設(shè)計(jì)要求，了解探針材料選型、接觸電阻管控與使用壽命規(guī)劃如何直接影響IC可靠性篩選效果與生產(chǎn)良率。
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